9月12日,由苏州纳米所纳米真空互联实验站主办的"表面分析技术光电子能谱仪应用研讨会"成功举办。来自胜科纳米(苏州)、苏州晶湛半导体、宝钢研究院分析测试中心、大连理工、上海师范大学以及所内师生五十余人参加此次会议,参会人员就光电子能谱的最新发展以及应用进行了深入探讨和交流。
会议邀请了清华大学测试中心李展平教授、台湾中央研究院薛景中教授、中科院苏州纳米所丁孙安教授、高德英特公司叶上远博士、ULVAC-PHI 漆原宣昭博士做了精彩的报告。
光电子能谱仪被广泛的应用在材料应用中,如有机发光体(OLED)、太阳能电池、锂电池、燃料电池、石墨稀、食品包装安全等项目上, 都需要表面分析的手段来改善研发,增进其性能与安全性。其中光电子能谱(XPS)和紫外光光电子能谱(UPS)分别都可以提供材料上的关键信息。在XPS的分析能力上, 高空间分办(<10um)能力在现今研究方向非常重要, 而在配合上团簇离子源的同时, 更可以以无损的离子溅射去达到多层有机结构材料的深度分析, 把表面分析的分析可能往更广大的方向推进。除此之外, 配备上样品传输管可以让样品在大气以外的环境传递, 保护如锂电池等的气敏样品在分析之前已经改质的问题。
参会的各位师生就XPS的应用以及实际操作中遇到的技术问题与专家们展开研讨,会后专家们参观了纳米真空互联站模拟装置。
研讨会现场