9月12日，清华大学分析测试中心高级工程师李展平应邀来苏州纳米所进行学术交流与访问，并作了题为“飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术及其应用”的学术报告。 

　　报告会上，李展平老师详细介绍了飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术的发展历史以及设备的主要原理，同时也将TOF-SIMS与现有的表面分析仪器以及其它种类质谱仪做了详细对比，认为TOF-SIMS具有高空间分辨率、高灵敏度、分析快、低损耗等优点；最后着重介绍了TOF-SIMS的应用领域，如基础物理，基础化学（催化剂表面，传感修饰界面），生物（材料，细胞，组织，生物反应器表面），机械（机械金属材料，高压容器表面缺陷，合金材料），材料（高分子材料表面，太阳能电池敏化材料），环境（大气颗粒污染物表面成份解析），新型显示材料（有机材料成分和空间分布测定，薄膜成分分析和厚度测定，氧化物分析，衰变过程分析，失效分析）等。报告结束后，与会者积极提问，会场气氛十分活跃。  

　　李展平为清华大学分析中心高级工程师，曾任ULVAC-PHI株式会社俄歇电子能谱(AES)、X-光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年人才引进至清华大学分析中心，主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文三十多篇。  

报告会现场