6月8日，应国际实验室张跃钢研究员邀请，德国卡尔斯鲁厄理工学院（Karlsruhe Institute of Technology, KIT）电子显微镜实验室（Laboratory for Electron Microscopy, LEM）Reinhard Schneider博士来纳米所作学术交流，作了题为“Characterization of advanced materials by EELS and EFTEM”的学术报告。 

　　在传统透射电子显微镜学（Transmission electron microscopy, TEM）中，样品对入射电子的非弹性散射通常是不利的，会降低图像的清晰度；然而，这些非弹性散射的电子却携带了丰富的化学结构信息，目前最常见的应用就是X射线能谱（Energy dispersive X-ray spectroscopy, EDXS）和电子能量损失谱（Electron energy loss spectroscopy, EELS）。搭载这两项配件以后，透射电镜在原有功能的基础上，可以对材料进行纳米尺度下的化学分析。EDXS更适合用于分析中高原子序数的元素，相对的，EELS特别对轻元素敏感，因而两者可以很好的配合。并且，EELS可以用来分析化学元素的化学键态，这是目前唯一一种可以在高空间分辨率下进行这一分析的技术手段。此外，现代的EELS谱仪还可以用来获得二维的元素分布图，及能量过滤TEM（Energy-filtered TEM, EFTEM）。 

　　Schneider博士自2006年1月起，成为KIT的高级科学家，总负责LEM的所有5台透射电子显微镜，主要负责TITAN³ 80-300球差矫正TEM的日常工作。除了硕士、博士的培养工作，还长期承担多项面向公司企业（如Bosch等）的研发类服务工作。 

　　在Schneider博士的报告中，他首先介绍了EELS和EFTEM的物理背景，并且介绍了LEM的现有设备和其他几类目前主流的商业化设备。然后Schneider博士用大量他多年工作中的实例，展示了EELS和EFTEM的广泛应用。例如，利用一个特殊的带有He气气泡的Si样品，发现，即使He元素的原子序数只有2，EELS可以将它检测出来，再一次证明，EELS是一种非常适合用于检测轻元素的方法。又如，碳材料中C原子的不同杂化方式在EELS中可以清楚的鉴别出来，甚至可以分析其近边结构（Energy loss near-edge fine structure, ELNES）来定量分析sp²和sp³杂化的碳原子的含量比。Schneider博士展示了更多的EFTEM的实用举例和有趣的实验结果，如Si纳米线，金属氧化物的纳米颗粒，Mn掺杂的ZnO磁性半导体等。在提问环节以及会后，Schneider博士与参会师生进行了热烈的交流讨论。

Reinhard Schneider博士作报告

报告人现场