4月15日上午，应苏州纳米所国际实验室张跃钢研究员邀请，美国劳伦斯伯克利国家实验室郭晶华教授一行来所访问，并作了题为“In Situ/operando Soft X-ray Spectroscopy Characterization of Interfacial Phenomena in Energy Materials and Devices” 的精彩学术报告。

　　对于能源转换、能源储存、催化、先进材料及功能器件等储能研究体系，其性能的优异程度主要取决于材料的结构，化学成分及界面相互作用。为有效理解相关反应机理进而实现能源转换和存储器件的实际应用，各式原位表征手段应运而生，而其中软X射线光谱显示出了优异的独特性。报告会上，郭晶华教授首先为我所师生介绍了美国劳伦斯伯克利大学的学校概括，然后就软X射线光谱应用于能源材料和器件的界面原位表征技术做了精彩的报告，并和与会人员进行了深入交流，针对师生们提出的问题做了详尽的回答。

　　来访期间，郭晶华教授团队还参观了我所的国际实验室，我所师生谦虚勤奋的科研态度，积极向上的精神面貌，先进优良的科研设备以及规范完善的管理制度等都给他们留下了深刻的印象，期望能进一步的加强合作与交流。

郭晶华教授作报告

报告会现场